当水的实际pH大于pHL时就会结垢,小于pHL时,就不发生结垢。因此,临界pHL相当于饱和指数中的pHB,不同的是pHB是计算值,而pHL是实验测定值,各种影响因素都包括进去了,其数值显然要比pHB高。临界pHL结垢指数完全是用实验测定值代替热力学平衡推导式来预测水中的碳酸钙是否会沉淀出来,其实用意义比IB指数、IW指数和IP指数为好,以此方法研制成的测垢仪已经投入实际应用。......
2023-06-30
冷却水中微溶物质的结垢过程可用图4-1说明。
图4-1 溶解与结晶区域
冷却水中多数微溶物质的溶解度随温度的升高反而降低。当微溶物质的浓度低于饱和浓度,处于A和a时,溶质呈离子、络离子和单分子状态存在,不会结晶。相反,水中的固态水垢还会溶解进入水中。点A和a所处的区域称为稳定区,即图4-1中溶解度线的左下方所示的区域。随着水的蒸发,点A所表示的浓度增加,直至达到饱和而处于溶解度线上的点B,或由于温度升高使a到达溶解度线上的b,这时溶液饱和,既不析出结晶,水中的固体也不再溶解。随着蒸发的继续进行或温度的继续升高而到达点C或c时,溶液是过饱和溶液。但是,并不是刚达到过饱和,溶液就析出晶体,而是要溶液的过饱和程度足够大(超过溶度积的若干倍),结晶的推动力足够大时,结晶才能自动进行。溶液开始过饱和到晶体能自动析出之间的区域称为介稳区,表示在图中为虚线和溶解度线之间的区域。在介稳区的溶液C和c,结晶的推动力不够,结晶不能自动进行。但并非不能析出晶体,如果往水中加入晶种或有其他杂质的微粒存在,会诱导出晶粒来,小晶核在介稳区也能够长大。点C溶液的浓度继续增加而达到D,或点c溶液的温度升高至d,析出晶体的推动力已相当大,结晶能自动进行。一般地,当结晶发生后,溶液的浓度就开始下降了,这一区域称不稳定区,即图4-1中虚线右上方所表示区域。
影响介稳区大小的因素很多,主要有以下几方面。
(1)盐类的溶解度越低,介稳区越宽。其中硫酸钙的溶解度最大,介稳区浓度为5~10倍;碳酸钙次之,为35~170倍;磷酸钙的溶解度最小,为1000倍以上。
(2)温度低时,介稳区较宽,温度升高,则变窄。这是因为温度升高,使活化能增加和扩散加速,晶核碰撞机会增多,导致结晶生长加快。
(3)水中杂质越多,介稳区越窄。例如,亚铁离子、二氧化硅、氧化铝及悬浮物能加速结晶生长。在金属表面上产生电化学腐蚀时,阴极部位的pH升高,使结晶速度加快;阳极溶出的亚铁离子起到晶核作用,加速沉淀,使介稳区缩小。
(4)投加阻垢剂可使介稳区扩大。阻垢剂能抑制或干扰晶体生长,或使晶体结构变形,使晶体变得疏松膨胀易被水流冲走,使已结晶的微粒处于分散状态,相对增大了成垢物的溶解度,不易析出沉淀。
溶质的表面析出现象非常复杂。形成晶核是结晶过程的第一步,也是最关键的一步。在过饱和溶液中,数个、数十个离子性低、有聚集倾向的分子首先聚集成晶核,晶核中按一定顺序和结构排列着微溶物质的离子,表面的离子具有过剩的能量,在晶核微表面(缺陷处)吸附一层离子,并使它们得以完成脱溶剂化和定位进入晶格,从而使晶核能够长大成为晶体。同时,晶核表面的离子也有被水中离子吸引而重新进入溶液的倾向。如果晶核比某个临界直径小,比如小于10μm,因其表面受水分子的作用力相对较大,其溶解度要比大颗粒的大,结果结晶再溶解。只有大于临界直径的晶核才可能长大成晶体。因此,对小颗粒未饱和的溶液,对大颗粒可能是过饱和的了。在这种情况下,小颗粒溶解而大颗粒则结晶。
晶体的生长速度主要由溶液过饱和程度、溶质向晶体表面的扩散速度以及晶体表面的溶质析出速度决定。扩散的推动力是晶体表面上的溶质浓度与溶液中浓度之差,与扩散速度有关的因素有流速、温度、溶液黏度等。过饱和程度越大,而且温度越高,晶体的生长速度越快。溶液流动会使分子的碰撞频率增大,有利于晶体生长。
传热面的结垢过程还包括晶粒在金属表面上的附着,按一定方向取向,并成长为有规则的集合体的过程,这样才能形成牢固地附着在金属表面的密实的垢层。
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