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电磁兼容性能的检测方法和要求

【摘要】:表7-3静电试验级别表注:“×”是开放等级,该等级必须在专用设备的规范中加以规定,如果规定了高于表格中的电压,则可能需要专用的试验设备。图7-4电快速瞬变脉冲群试验图检验结果判断与静电放电抗扰度试验相同。表7-13阻尼振荡磁场试验级别注:“×”是开放等级,可在产品规范中给出。磁场抗扰度试验的方法是将被测设备放置在模拟电磁环境中,同时检测被测设备的性能指标,检验结果的判定与静电放电抗扰度试验相同。

1.静电放电抗扰度试验

静电放电试验模拟的是人体静电对设备的干扰,如果人体静电施加于变电站设备,可能产生如下后果:直接通过能量交换引起设备内部半导体器件的损坏;放电所引起的电场与磁场变化造成变电站设备的误动作。

通过静电放电抗扰度试验,可以检测被测设备是否会受到静电放电的影响,试验部位和试验等级分别如表 7-3 和表 7-4 所示。

表7-3 静电试验级别表

注:“×”是开放等级,该等级必须在专用设备的规范中加以规定,如果规定了高于表格中的电压,则可能需要专用的试验设备。

表7-4 静电试验部位

实验方法:如图7-3 所示,对受试设备所选放电部位至少施加 10 次正、负极性的单次放电,测试被测设备的性能指标是否仍然满足要求。

图7-3 静电试验图

检验结果判断如表 7-5 所示。

表7-5 电磁兼容试验检验结果

2.电快速瞬变脉冲群抗扰度试验

变电站中机械开关对电感性负载的切换会产生线路上的暂态骚扰,以脉冲群形式出现,如果电感性负载多次重复开关,则脉冲群会以相应的时间间隔多次重复出现。这种暂态骚扰能量较小,一般不会引起设备的损坏,但由于其频谱分布宽,所以仍会对变电站电子设备的可靠性产生影响。脉冲群的特点:脉冲成群出现、脉冲的重复频率较高、脉冲波形的上升时间短暂、单个脉冲的能量较低。

电快速瞬变脉冲群抗扰度试验可以检测被测设备性能是否会受到电快速瞬变脉冲群的影响,试验等级如表7-6所示。

表7-6 电快速瞬变脉冲群试验级别

注:(1)开路输出试验电压波动范围为±10%,脉冲的重复频率波动范围为±20%。
(2)“×”是开放等级,在专用设备技术规范中必须对这个级别加以规定。

试验方法如图7-4 所示。在被测设备测试端口和参考地之间施加电快速瞬变脉冲群干扰信号,测试被测设备的性能指标是否仍然满足要求。

图7-4 电快速瞬变脉冲群试验图

检验结果判断与静电放电抗扰度试验相同。

3.浪涌(冲击)抗扰度试验

浪涌抗扰度试验是模拟变电站中浪涌带来的干扰影响。浪涌产生的原因主要有:变电站中操作开关瞬间引起的过电压,变电站被雷电击中产生的过电压。其特点是:作用时间极短,但电压幅度高、瞬态能量大。因为其瞬间能量大,很可能会造成设备内部半导体器件的损坏;放电所引起的电场与磁场变化,也会造成变电站设备的误动作。

通过浪涌抗扰度试验,可以检测被测设备是否会受到浪涌的影响,试验等级如下表所示:

表7-7 浪涌试验级别

试验方法如图7-5 所示,在被测设备的输入端口分别施加共模电压和差模电压,测试被测设备的性能指标是否仍然满足要求。

图7-5 浪涌试验图

检验结果判断与静电放电抗扰度试验相同。

4.电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验

电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验模拟的是设备供电电源发生变化带来的影响,要求被测设备有一定的储能能力,在供电电源波动或暂时失能时,仍能正常工作,试验等级如表 7-8 所示。

表7-8 电压暂降、短时中断试验级别

注:(1)UT 代表被测设备的额定供电电压。
(2)“×”表示一个未定的持续时间,这个时间可以由产品的规范给出。

试验方法如图7-6 所示,对被测设备的供电电源进行电压暂降或短时中断,测试被测设备的性能指标是否仍然满足要求。

图7-6 电压暂降、短时中断试验图

检验结果判断与静电放电抗扰度试验相同。

5.磁场抗扰度试验

变电站内存在多种电磁场,主要包括:工频磁场、射频电磁场、脉冲磁场、阻尼振荡磁场。变电站内的电子设备处于这样的电磁环境内,要求必须具有磁场抗干扰能力,在有电磁干扰的环境中,设备的性能不受影响,工作正常。

磁场抗扰度的试验级别如表 7-9 所示。

表7-9 工频稳定持续磁场试验级别表

注:“×”是开放等级,可在产品规范中给出。

表7-10 工频短时磁场试验级别表

注:“×”是开放等级,可在产品规范中给出。

表7-11 80 MHz~1000 MHz 射频电磁场试验级别

注:“×”是开放等级,可在产品规范中给出。

表7-12 脉冲磁场试验级别表

注:“×”是开放等级,可在产品规范中给出。

表7-13 阻尼振荡磁场试验级别

注:“×”是开放等级,可在产品规范中给出。

磁场抗扰度试验的方法是将被测设备放置在模拟电磁环境中,同时检测被测设备的性能指标,检验结果的判定与静电放电抗扰度试验相同。